HAST加速老化試驗(yàn)箱（Highly Accelerated Stress Test Chamber）是一種用于模擬加速老化環(huán)境的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備，主要用于評(píng)估電子元器件、半導(dǎo)體芯片、以及其他材料在高溫、高濕和高壓條件下的性能和耐久性。

一、原理：

1.高溫：HAST試驗(yàn)箱通過(guò)設(shè)定高溫（通常為130℃），來(lái)加速材料的老化過(guò)程。高溫可以加速化學(xué)反應(yīng)和物理變化，模擬產(chǎn)品在長(zhǎng)時(shí)間使用中的老化情況。

2.高濕：試驗(yàn)箱內(nèi)部的相對(duì)濕度通常設(shè)定在85%左右，這種高濕度條件可以加速潮氣通過(guò)外部保護(hù)材料或芯片引線周圍的密封封裝，從而評(píng)估產(chǎn)品在高溫高濕環(huán)境下的耐濕性能。

3.高壓：HAST試驗(yàn)箱在受控的壓力容器內(nèi)增加大氣壓力，通常可以達(dá)到3 atm或更高，以實(shí)現(xiàn)超過(guò)100℃的溫濕度控制。這種壓力的增加可以加速溫濕度對(duì)材料的老化效果，如材料的遷移、腐蝕、絕緣劣化等。

4.偏置電壓（bHAST）：在某些HAST試驗(yàn)中，除了高溫、高濕和高壓條件外，還可以對(duì)樣品施加偏置電壓，模擬在實(shí)際使用中可能遇到的電應(yīng)力，以評(píng)估電子元件在電應(yīng)力下的耐久性。

5.非飽和蒸汽測(cè)試：HAST試驗(yàn)箱通常指相對(duì)濕度為85%的非飽和蒸汽測(cè)試，與PCT試驗(yàn)箱（通常指100%相對(duì)濕度的飽和蒸汽測(cè)試）不同，HAST試驗(yàn)箱通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來(lái)完成測(cè)試。

HAST加速老化試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)產(chǎn)品的加速老化壽命試驗(yàn)。

以上關(guān)于HAST加速老化試驗(yàn)箱的概念及原理的介紹。